| Найдено документов - 1 | Источник: Электронно-микроскопические исследования влияния отжига на тонкие пленки GE–SB–TE, полученные методом вакуумно-термического испарения / Ю. С. Зыбина, Н. И. Боргардт, П. И. Лазаренко [и др.]. - Т... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Номер журнала
ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 10. - Москва : ИКЦ Академкнига, 2019. - Текст : электронный.