ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ : научный журнал / Российская академия наук, Институт физики твердого тела РАН. - Москва : ИКЦ Академкнига, 1982 - . - URL: https://eivis.ru/browse/publication/79532 (дата обращения: 16.07.2025). - Режим доступа: по подписке (2017-). - URL: https://elibrary.ru/title_about_new.asp?id=9739 (дата обращения: 16.07.2025). - Режим доступа: по подписке (2018-2022). - Переводная версия JOURNAL OF SURFACE INVESTIGATION: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. - ISSN 1028-0960 (Print). - Текст : электронный.

Аннотация: В журнале освещаются результаты теоретических и экспериментальных исследований в области физики, химии и механики поверхности твердых тел по следующим направлениям: синхротронное излучение и нейтронные методы для исследований в области физики поверхности и физики конденсированного состояния; физико-химические и механические процессы, состав, структура и свойства поверхности твердого тела; электронно-микроскопические исследования; методы получения и исследования поверхности, тонких пленок, границ раздела и приповерхностных объемов кристалла (рентгеноструктурные и рентгеноспектроскопические, применение синхротронного излучения, нейтронографические, электронная, ионная и молекулярная спектроскопия, электронная микроскопия , атомно-силовая микроскопия, сканирующая туннельная микроскопия и др.); технология поверхности - формирование тонких слоев и новые процессы обработки поверхности (лазерная, нейтронографическая, синхротронное излучение, рентгеноструктурная, ионная и др.). Журнал публикует экспериментальные и теоретические оригинальные статьи и обзоры, а также содержит информацию о работе различных конгрессов, конференций, симпозиумов и семинаров по физике, химии поверхности. Журнал рассчитан на широкие круги научных работников, инженеров, преподавателей, аспирантов и студентов старших курсов физических и инженерно-физических факультетов, интересующихся вопросами физики, химии и механики поверхности твердых тел и физике конденсированного состояния, а также их изменение в зависимости от облучения и других воздействий

Отметка о поступлении: 2018-2022 - eLIBRARY.RU, 2017-2024 - ИВИС, *2025 - ИВИС

Дисциплина: Методы атомистического моделирования, Методы диагностики материалов и структур, Оптические и рентгеновские методы диагностики, Практика (производственная-педагогическая, НИР, проектная, учебная), Просвечивающая электронная микроскопия материалов и наноструктур, Растровая электронно-ионная микроскопия наноструктур