Электронографический анализ структуры углеродных наностолбиков вдоль направления их роста / Р. Л. Волков, Н. И. Боргардт, Д. Г. Громов, С. В. Дубков. - Текст : электронный
// ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. - Москва : Наука, 2018. - № 5. - С. 63-70. - URL: https://www.elibrary.ru/item.asp?id=35357475 (дата обращения: 04.12.2018).

Аннотация: Для исследования вдоль направления роста структуры углеродных наностолбиков, выращенных методом плазмостимулированного химического осаждения на подложке кремния без использования катализатора, предложен способ приготовления при помощи фокусированного ионного пучка образца для электронно-микроскопических исследований, состоящего из совокупности тонких фольг планарного сечения. Методом электронной дифракции и светлопольной просвечивающей электронной микроскопии получена зависимость изменения доли кристаллитов двумерно-упорядоченной фазы углерода вдоль направления роста наностолбиков. Установлено, что доля кристаллической фазы в материале наностолбиков постепенно уменьшается по мере их выращивания. Около 90% всего кристаллического материала приходится на диапазон высот от основания до середины наностолбиков, а их верхняя часть практически полностью состоит из аморфного углерода