| Найдено документов - 1 | Источник: Влияние неровностей краев линий элементов фоторезистивной маски (LER-эффект) на параметры интегральных схем / А. А. Голишников, М. Г. Путря, Ю. А. Чаплыгин, М. С. Кульпинов. - ISBN 978-5-7256-10... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
| Материалы научно-технической конференции "Микроэлектроника и информатика - 2025" : сборник статей : (Зеленоград, 24 - 25 апреля 2025) / Министерство образования и науки РФ, Национальный исследовательский университет "МИЭТ". - Москва : МИЭТ, 2025. - 196 c. - ISBN 978-5-7256-1066-6 : б.ц., 60 экз. - Текст : непосредственный. | |
| Шифры: | 621.3.049.77 - М-341 |
| Пункты книговыдачи: | 1чз(Архив);1сио |
| Ключевые слова: | Микроэлектроника, Информатика, Конференция 2025 |
| Аннотация: | В сборнике опубликованы статьи участников 32 научно-технической конференции "Микроэлектроника и информатика - 2025", посвященные актуальным вопросам микро- и наноэлектроники, нанотехнологий, информационно-управляющих и телекоммуникационных систем, техносферной безопасности, а также менеджмента и инноваций наукоемких предприятий. Для научных и инженерных работников, преподавателей вузов, аспирантов и студентов старших курсов университета |
| Экземпляры: | Всего: 2, из них: сио-1, чз(Архив)-1 |
| Поиск: | Статьи из cборника |