Сортировать по:
1. Статья из журнала
Многоуровневая запись в тонких пленках Ge2Sb2Te5 / С. А. Фефелов, Л. П. Казакова, Н. А. Богословский [и др.]. - Текст : электронный
// ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ. - Санкт-Петербург : Наука, 2020. - № 4. - С. 372-375. - URL: http://journals.ioffe.ru/articles/49144 (дата обращения: 17.05.2023). - Режим доступа: свободный.
Авторы:Фефелов, С. А., Казакова, Л. П., Богословский, Н. А., Былев, А. Б., Якубов, А. О.
Ключевые слова:Физика, Пленки, Многоуровневые записи, Мемристоры, Эффект переключения, Халькогенидные стеклообразные полупроводники
Аннотация:Проведены исследования вольт-амперных характеристик, полученных на тонких пленках Ge2Sb2Te5 в токовой моде. Установлен эффект многоуровневой записи при последовательной подаче на образец импульсов тока с возрастающим максимальным значением. Показано, что этот эффект может быть связан с расширением канала памяти. Получена оценка размера канала памяти. Сделан вывод о возможности использования пленок Ge2Sb2Te5 в качестве мемристора
Поиск:Источник
Электронный документДля просмотра необходимо войти в личный кабинет