Найдено документов - 3 Статьи из номера журнала: ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА. ТЕХНОЛОГИЯ. БИЗНЕС. 6. - Москва : Техносфера, 2025. - Текст : электронный : непосредственный. Версия для печати
Сортировать по:
1. Статья из журнала
bookCover
Формирование подходов к разработке отечественных САПР СБИС / В. Дождёв, И. Кузьменко, С. Сафронов [и др.]. - Текст : электронный : непосредственный
// ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА. ТЕХНОЛОГИЯ. БИЗНЕС. - Москва : Техносфера, 2025. - № 6. - С. 56-64. - URL: https://elibrary.ru/item.asp?id=82735604 (дата обращения: 01.09.2025). - URL: https://www.electronics.ru/journal/article/11050 (дата обращения: 06.08.2025).
Авторы:Дождёв, В., Кузьменко, И., Сафронов, С., Переверзев, А., Коршунов, А.
Ключевые слова:Analog ICs, Design flow, Digital vlsis, Microwave ics, Open source CAD, VlSI CAD, Аналоговые ИС, Маршруты проектирования, САПР СБИС, САПР с открытым исходным кодом, СВЧ ИС, Цифровые СБИС
Аннотация:Сложившиеся сегодня в стране условия сделали возможным и необходимым создание экосистемы отечественных САПР. В статье обсуждаются тенденции развития современных инструментов проектирования СБИС, структура мирового рынка САПР, а также перспективы, организационные подходы и основные направления разработки отечественных САПР
Поиск:Источник
Ссылка на ресурс:https://www.electronics.ru/journal/article/11050
Ссылка на ресурс:https://elibrary.ru/item.asp?id=82735604
2. Статья из журнала
bookCover
Специальные виды анализа для современных ИС: вызовы нанометровых технологий и применение методов искусственного интеллекта / А. Стемпковский, Е. Кожевников, Е. Демидов [и др.]. - Текст : электронный : непосредственный
// ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА. ТЕХНОЛОГИЯ. БИЗНЕС. - Москва : Техносфера, 2025. - № 6. - С. 76-82. - URL: https://elibrary.ru/item.asp?id=82735606 (дата обращения: 01.09.2025). - URL: https://www.electronics.ru/journal/article/11052 (дата обращения: 06.08.2025).
Авторы:Стемпковский, А., Кожевников, Е., Демидов, Е., Соловьев, Р., Тельпухов, Д., Переверзев, Л., Карташев, В., Дождёв, В., Назаров, И., Третьяков, А.
Ключевые слова:CAD, Design tool, Electromigration analysis, IS, IR drop analysis, Machine learning methods, Signal integrity analysis, Timing violation, Анализ падения напряжения, Анализ целостности сигналов, Анализ эффектов электромиграции, Инструменты проектирования, ИС, Методы машинного обучения, Нарушение тайминга, САПР
Аннотация:В статье представлен обзор специальных видов анализа для современных ИС, которые учитывают такие эффекты, как падение напряжения в шинах питания, электромиграция и нарушение целостности сигналов. Рассмотрены методы реализации специальных видов анализа в инструментах проектирования, в том числе с применением машинного обучения
Поиск:Источник
Ссылка на ресурс:https://www.electronics.ru/journal/article/11052
Ссылка на ресурс:https://elibrary.ru/item.asp?id=82735606
3. Статья из журнала
bookCover
Кочемасов, В. (Kochemasov, V.).
Высокочастотные конденсаторы по технологии MEMS / В. Кочемасов, В. Горбачев, С. Хорев. - Текст : электронный : непосредственный
// ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА. ТЕХНОЛОГИЯ. БИЗНЕС. - Москва : Техносфера, 2025. - № 6. - С. 116-124. - URL: https://elibrary.ru/item.asp?id=82735612 (дата обращения: 01.09.2025). - URL: https://www.electronics.ru/journal/article/11058 (дата обращения: 06.08.2025).
Авторы:Кочемасов, В., Горбачев, В., Хорев, С.
Ключевые слова:CMOS, Fractal capacitor, MEMS capacitor, MEMS microphone, MEMS-конденсаторs, MEMS-микрофоны, Microfabrication technology, Variable capacitance, КМОП, Переменная емкость, Технологии микрообработки, Фрактальные конденсаторы
Аннотация:В статье представлен обзор основных технологий, применяемых для изготовления микроэлектромеханических систем (МЭМС). Рассматриваются особенности конструкций MEMS-конденсаторов и принципы их работы, а также приводятся примеры устройств на их основе
Поиск:Источник
Ссылка на ресурс:https://www.electronics.ru/journal/article/11058
Ссылка на ресурс:https://elibrary.ru/item.asp?id=82735612