Сортировать по:
1. Статья из журнала
Исследование наноструктурированных термоэлектрических материалов на основе SiGe / Ю. И. Штерн, М. С. Рогачев, М. Ю. Штерн [и др.]. - Текст : электронный
// ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА. - Санкт-Петербург : ФТИ им. А.Ф. Иоффе, 2026. - № 1. - С. 15-25. - URL: https://journals.ioffe.ru/articles/62571 (дата обращения: 18.03.2026). - Режим доступа: свободный.
Авторы:Штерн, Ю. И., Рогачев, М. С., Штерн, М. Ю., Шерченков, А. А., Табачкова, Н. Ю., Панченко, В. П., Воронов, В. П., Мустафоев, Б. Р.
Ключевые слова:Термоэлектричество, SiGe, Наноструктурирование, Физические параметры, Термоэлектрическая добротность
Аннотация:С помощью механохимического синтеза и индукционной плавкой синтезированы термоэлектрические материалы на основе SiGe n- и p-типа проводимости. Из порошков синтезированных материалов изготовлены объемные образцы горячим прессованием и наноструктурированные образцы методом искрового плазменного спекания. Исследованы механические, тепло- и электрофизические свойства, определена термоэлектрическая добротность материалов. Проведено сравнение свойств материалов, полученных горячим прессованием и искровым плазменным спеканием. Установлено, что у наноструктурированных материалов теплопроводность снижается до 25 % за счет фононного теплопереноса. Это позволило увеличить максимальное значение термоэлектрической добротности в интервале температур 1070−1170 K для наноструктурированных материалов на основе SiGe обоих типов проводимости — для n-типа до 1.24 ± 0.13 и p-типа до 1.22 ± 0.12
Поиск:Источник
Электронный документДля просмотра необходимо войти в личный кабинет