Сортировать по:
1. Статья из журнала
Исследование асимметрии атомного изображения поверхностной решетки графита методом СТМ / С. Д. Алекперов, С. И. Васильев, В. Б. Леонов [и др.]
// ДОКЛАДЫ АКАДЕМИИ НАУК СССР. - Москва : РАН, Наука, 1989. - Т. 307, № 5. - С. 1104-1108. - URL: https://www.mathnet.ru/rus/dan48677 (дата обращения: 30.09.2026).
Авторы:Алекперов, С. Д., Васильев, С. И., Леонов, В. Б., Панов, В. И., Семенов, А. Э.
Ключевые слова:Физика, Асимметрия атомного изображения, Атомная структура, СТМ-исследования
Аннотация:Цель настоящей работы состояла в изучении СТМ-изображения атомной структуры поверхности высокоориентированного пиролитического графита, условий наблюдения распределения локальной плотности электронных состояний над всеми атомами элементарной ячейки и определении зависимости амплитуды атомной гофрировки от величины туннельного тока и напряжения на переходе
Поиск:Источник
Ссылка на ресурс:https://www.mathnet.ru/rus/dan48677