| Найдено документов - 1 | Источник: Псху, Д. А. (Автор МИЭТ; Pskhu, D. A.). Исследование особенностей и разработка рекомендаций к методикам тестирования МОП-транзисторов на стойкость к эффекту термополевой нестабильности / Д. А. Пс... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Номер журнала
| ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА. Серия 3. МИКРОЭЛЕКТРОНИКА. 1(201). - Москва : НИИМЭ, 2026. - Текст : непосредственный : электронный. | |
| Экземпляры: | Всего: 1, из них: чз(Архив)-1 |
| Поиск: | Статьи из номера журнала (сборника) Источник |