| Найдено документов - 1 | Источник: Pskhu, D. A. (Автор МИЭТ; Псху, Д. А.). Research of features and development of recommendations for mosfet bias temperature instability testing methods / D. A. Pskhu, M. G. Putrya, D. A. Maksimov... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Номер журнала
| ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА. Серия 3. МИКРОЭЛЕКТРОНИКА. 1(201). - Москва : НИИМЭ, 2026. - Текст : непосредственный : электронный. | |
| Экземпляры: | Всего: 1, из них: чз(Архив)-1 |
| Поиск: | Статьи из номера журнала (сборника) Источник |