| Найдено документов - 1 | Источник: Анализ влияния интерметаллидных фаз AlxAuy и AlxСuy на надежность микросварных соединений интегральных микросхем / А. Ю. Титов, Д. В. Вертянов, Д. И. Артюшин [и др.]. - Текст : электронный : неп... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Номер журнала
| ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ. ЭЛЕКТРОНИКА. 6. - Москва : МИЭТ, 2025. - URL: https://elib.miet.ru (дата обращения: 14.01.2026). - Режим доступа: для зарегистрированных читателей библиотеки МИЭТ. - Текст : электронный : непосредственный. | |
| Экземпляры: | Всего: 1, из них: чз(Архив)-1 |
| Поиск: | Статьи из номера журнала (сборника) Источник |
| Электронный документ | Для просмотра необходимо войти в личный кабинет |